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跟踪式光笔测量系统高精度：凭借高精度光学传感器技术和算法，能精确探测测量对象的几何特征和形位公差。在 49.0m³ 范围内，体积精度可达 0.089mm；28.6m³ 范围内，体积精度可达 0.067mm ；10.4m³ 范围内，体积精度可达 0.049mm。 测量范围广：搭配超远可视范围的跟踪器 i-Tracker，i-Probe 测量光笔标准工作距离为 6m，单站最远测量距离可至 10m
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